
āļĻāļđāļāļĒāđāļāļķāļāļāļāļĢāļĄāļāļąāļāļĐāļ°āļāļĩāđāđāļāđāļāđāļāļĢāļāļāļēāļĢāļāļĩāđāļāļāļ°āļ§āļīāļĻāļ§āļĨāļēāļāļāļĢāļ°āļāļąāļ āļĢāđāļ§āļĄāļāļāļāļļāļāđāļāđāļ 1 āđāļ 3 āļĄāļŦāļēāļ§āļīāļāļĒāļēāļĨāļąāļĒāļāļģāļĢāđāļāļ â KMITL, KMUNB āđāļĨāļ° MUT āļ āļēāļĒāđāļāđāļāļēāļĢāļŠāļāļąāļāļŠāļāļļāļāļāļāļ āļŠāļāļāļ§.

āļāļĢāđāļāļĄāļāļąāļāđāļāļĨāļ·āđāļāļāļāļĢāļ°āđāļāļĻāļŠāļđāđāļĻāļđāļāļĒāđāļāļĨāļēāļāđāļāļāđāļāđāļĨāļĒāļĩ Semiconductor āļāđāļ§āļĒāļĻāļđāļāļĒāđāļāļāļĢāļĄāļĢāļ°āļāļąāļāļāļēāļāļī

āļĻāļđāļāļĒāđāļāļķāļāļāļāļĢāļĄāļāļāļāđāļĢāļē āđāļāđāļāļāļąāļāļĐāļ°āļāđāļēāļ Tester āļāļķāđāļāđāļāđāļāļŦāļąāļ§āđāļāļŠāļģāļāļąāļāļāļāļāļāļļāļāļŠāļēāļŦāļāļĢāļĢāļĄāļāļīāļāđāļĨāļ°āļ§āļāļāļĢāļĢāļ§āļĄ

āđāļāļīāļāļŦāļāđāļēāđāļāļĒāļāļ§āļēāļĄāļĢāđāļ§āļĄāļĄāļ·āļāļĢāļ°āļŦāļ§āđāļēāļ āļ āļēāļāļ§āļīāļāļēāļ§āļīāļĻāļ§āļāļĢāļĢāļĄāļāļīāđāļĨāđāļāļāļĢāļāļāļīāļāļŠāđ āđāļĨāļ°āļāļąāļāļāļĄāļīāļāļĢāļ āļēāļāđāļāļāļāļāļāļąāđāļāļāļģ